一、4U工控機(jī)為什么要恒溫老化測(cè)試：

　　在這項(xiàng)測(cè)試中，通過(guò)在恒定溫度下持續(xù)運(yùn)行機(jī)器，可以模擬出實(shí)際工作環(huán)境中的使用情況，從而評(píng)估系統(tǒng)的可靠性和性能表現(xiàn)；

　　恒溫老化測(cè)試還有助于發(fā)現(xiàn)潛在的問(wèn)題和隱患，例如系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)的溫度過(guò)高、性能下降、穩(wěn)定性問(wèn)題等。通過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試，可以觀察和監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在不同負(fù)載條件下的表現(xiàn)，并及時(shí)調(diào)整和優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)。這樣可以確保4U工控機(jī)在長(zhǎng)期使用過(guò)程中具備良好的穩(wěn)定性和性能，提高用戶的滿意度和工作效率。

　　二、恒溫箱老化的測(cè)試環(huán)境：

　　測(cè)試設(shè)備：微電腦恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)

　　環(huán)境溫度：-20℃,60℃

　　測(cè)試軟件：BURNINTEST 6.0

　　監(jiān)測(cè)工具：Gxp-108溫度計(jì)+探頭(監(jiān)視機(jī)箱表面溫度)、hw32_510/CoreTemp32(監(jiān)視CPU溫度)

　　三、測(cè)試方法：

　　將待測(cè)整機(jī)置于MSD-1001工業(yè)烤箱中，在烤箱內(nèi)部接好顯示器、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)等測(cè)試設(shè)備后開(kāi)機(jī)，運(yùn)行測(cè)試軟件“BURNINTEST 6.0”，在“配置運(yùn)行參數(shù)”內(nèi)將CPU數(shù)學(xué)、CPU、內(nèi)存、2D圖形、3D圖形、內(nèi)存、均設(shè)置為，使系統(tǒng)滿負(fù)荷工作；將烤箱內(nèi)部溫度由低到高依次設(shè)定為－20℃,60℃，并記錄下各溫度點(diǎn)時(shí)待測(cè)整機(jī)的運(yùn)行情況。

　　四、測(cè)試結(jié)論：

　　根據(jù)提供的恒溫老化測(cè)試數(shù)據(jù)，可以得出結(jié)論：4U工控機(jī)-DT-510M-IH61MB在恒溫環(huán)境下表現(xiàn)出了良好的穩(wěn)定性和性能。CPU、主板和硬盤(pán)的溫度控制良好，整體平均溫度穩(wěn)定在-20℃，說(shuō)明該工控機(jī)能夠在低溫環(huán)境下持續(xù)穩(wěn)定運(yùn)行。這為工業(yè)控制和應(yīng)用提供了可靠的解決方案。